X射线荧光分析仪

X射线荧光分析仪

X射线荧光分析仪诞生至今，已发展到第三代。对人类医学发展及医疗事业的贡献功不可没。成为现代社会的一种非常重要的医疗工具。第三代X射线荧光分析仪，采用世界上最先进的硅SIPIN探测器（分辨率为150ev），实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自动切换的滤光片及透射式X射线球管，最大程度地缩小了X射线源与被测物体的间距，从而在较低的电压下达到同样的激发效率，同时减少了漫射光的干扰，大大地提高

目录

1基本介绍
2产品特点
3技术参数



1基本介绍




第三代X射线荧光分析仪，采用世界上先进的硅SIPIN探测器（分辨率为150ev），实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自动切换的滤光片及透射式X射线球管，大程度地缩小了X射线源与被测物体的间距，从而在较低的电压下达到同样的激发效率，同时减少了漫射光的干扰，大大地提高了灵敏度和读数的准确性，重复性。

2产品特点




1、在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出具感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。

2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰，

从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。

3、当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由

此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。

4、逃逸峰：由于采用的是Si针半导体探测器，因此当X射线荧光在通过探测器的时候，如果某种元素

的含量较高或者能量较高，其被Si吸收的概率也就越大。此时，光谱图中在该元素的能量

值减去Si能量值的地方回产生一个峰，此峰即为逃逸峰。

5、在电压不稳的情况下，可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。

3技术参数




分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）Na～U(任选,φ1,2mm/φ0,1mm切换方式型）检出下限Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm样品形状大460×,380mm(高150mm)样品塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体样品室气氛大气X射线管靶材Rh管电压大50KV管电流大1mAX射线照射径1/3/5mm防护<,0,1mR/Hr,(辐射低于电脑屏幕）检测器硅SIPIN探测器光学图像观察倍率15倍软件定性分析：自动定性（自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移）照射径,1/3/5mm定量分析,基础参数法/标准法/1点校正计算机CPUPentiumIV1,8GHz以上内存256MB以上硬盘20GB以上OSWindowXP监视器17寸LCD周围温度10～35C（性能温度）/5～40C（动作温度）周围湿度5～31C时温度范围：大相对湿度80%以下 /31～40C时温度范围：相对湿度50%以下电源AC110V/220V±,10%,50/60HZ消耗电力1,3KVA以下（含计算机,LCD,打印机）设备重量约65kg(不含桌子,计算机）外形寸法600（W）×,545（D）×,435（H）mm