X荧光分析仪

X荧光分析仪

X荧光分析仪X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线，它包含了被分析样品化学组成的信息，通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。

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1基本内容

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仪器特点

仪器机电一体微机化设计,大屏幕24bit色LCD,操作人机对话,简洁美观;

检测品种广,检测量程宽,分析速度快,标准样品用量少;

采用荧光强度比率分析方法,温度、气压自动修正,碳氢比(C/H)亦可修正;

仪器的自动诊断功能,判断仪器的工作状态和电气参数;

采用一次性样品杯,可避免交叉污染;样品杯制作快捷方便,可记录样品编号、S%(m/m)、日期;

样品台定位;待测样时,自动伸出机体外,置放样品十分便捷。

仪器数据存储量大,含量分析结果和标定工作曲线参数可查询。

仪器具有标准USB通讯,可以连接计算机并组网。

主要技术指标

分析范围:0.01%～100%

分析精度：标准偏差SSO3≤0.04%、SCaO≤0.10%

样品量:2～3ml(相当样品深度3mm～4mm);

分析宽度:CaO（SO3）:min~max≤15%,例如水泥中CaO:37%～52%，通过标定工作曲线选定。

测量时间:60、120、240、300、600秒,任意设定;

单样品自动测量,测量次数:2、3、5、10、50次任意设定,测量结束给出平均值和标准偏差;

校正曲线数:仪器可存储9条标定曲线,5条为一元一次直线,4条为二项式抛物线;

工作条件:温度:5～35℃;相对湿度:≤85%（30℃）;

工作电源:AC220V、50Hz；

额定功率:30W;