千分测厚仪
千分测厚仪
千分测厚仪
目录
- 1设备标准
- 2产品用途
- 3技术指标
1设备标准
QB/T
2产品用途
千分测厚仪(BMH-J3型)主要用于测量20㎜以下的各类型瓦楞纸板的厚度。
3技术指标
1.测量范围：0-20㎜
2.刻度盘分度值：0.01㎜
3.测量精度：<0.05㎜
4.测量压力：20±0.5Kpa
5.测量面积：10±0.2cm2
6.测量面间平行度：<0.035㎜
千分测厚仪
千分测厚仪
QB/T
千分测厚仪(BMH-J3型)主要用于测量20㎜以下的各类型瓦楞纸板的厚度。
1.测量范围：0-20㎜
2.刻度盘分度值：0.01㎜
3.测量精度：<0.05㎜
4.测量压力：20±0.5Kpa
5.测量面积：10±0.2cm2
6.测量面间平行度：<0.035㎜