数显测厚仪
数显测厚仪
超声波数显测厚仪是采用最新的高性能、低功耗微处理器技术，基于超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。1.显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光；2.测量范围：0.75～300mm(钢中)，公制与英制可选择；3.声速范围
目录
- 1超声波数显测厚仪
- 2技术参数
- 3数显薄膜测厚仪
1超声波数显测厚仪
可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作测量。
2技术参数
1.显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光；
2.测量范围：0.75～300mm(钢中)，公制与英制可选择；
3.声速范围：1000～9999 m/s：
4.分 辨 率：0.1mm
5.示值精度： ±(1%H+0.1)mm H为被测物实际厚度
6.测量周期：单点测量时4次/秒、扫描模式10次/秒；
7.存储容量：可存储20组(每组多99个测量值)厚度测量数据。
8.工作电压：3V(2节AA尺寸碱性电池串联)
9.持续工作约100小时(不开背光时)
10.外形尺寸：150×74×32 mm 11.整机重量：245g